フォトニクス特論 (4067)

授業科目基本情報

科目区分 専門科目 教職科目 理科
単位数 1 選択・必修・自由 選択
授業形態 講義 主な使用言語 日本語
開講時期 各クラスを参照
履修登録期間 各クラスを参照 履修取消期限 各クラスを参照

教育プログラム別の履修区分

プログラム名 IS CB BS BN MS CP DS
履修区分
コア科目
履修方法 ・基盤科目及び専門科目から12単位以上履修すること。

授業科目概要

担当責任教員 各クラス担当教員筆頭者
担当教員 各クラス担当教員
教育目的/授業目標 前半は光センサおよびイメージセンサ技術を中心に、半導体光デバイスのメカニズム・構造・プロセス・機能および応用について学ぶ。半導体光デバイスの基礎概念から応用に至るまでを俯瞰するとともに、詳細の理解を目指す。後半はシンチレータやドシメータなどの蛍光体型放射線計測デバイスや装置の基礎から応用までを学ぶ。蛍光体に関する基礎物理からデバイス技術、最終的にはこれらを用いた医療画像装置、セキュリティ装置、石油資源探査装置、素粒子・宇宙物理用の観測装置、環境計測装置等に関する理解を目指す。
指導方針 光センサ技術については、電荷蓄積に至る概念を半導体工学・光物性から説きおこし画素構造、センサ構造までを講義する。またCMOSイメージセンサの性能向上の工夫について解説する。放射線センサ技術については、蛍光体と光デバイスの組み合わせが多いため、上記半導体光デバイスの知見習得を前提として講義を行う。蛍光体に関する基礎物理を概説した後に、シンチレータ、ドシメータデバイスに関して説明を行う。さらに応用技術に関して講義する。

クラス情報

クラス名 担当教員
A 太田 淳、柳田 健之、徳田 崇、河口 範明 詳細
B 太田 淳、柳田 健之、徳田 崇、河口 範明 詳細

授業計画

回数 日付 [時間] テーマ 内容
1 A:6/29 [1]
B:11/14 [1]
各クラスを参照 各クラスを参照
2 A:7/3 [1]
B:11/16 [2]
各クラスを参照 各クラスを参照
3 A:7/5 [1]
B:11/21 [1]
各クラスを参照 各クラスを参照
4 A:7/10 [1]
B:11/22 [5]
各クラスを参照 各クラスを参照
5 A:7/18 [1]
B:11/28 [1]
各クラスを参照 各クラスを参照
6 A:7/18 [4]
B:11/30 [2]
各クラスを参照 各クラスを参照
7 A:7/20 [1]
B:12/5 [4]
各クラスを参照 各クラスを参照
8 A:7/20 [4]
B:12/7 [4]
各クラスを参照 各クラスを参照

テキスト・参考書

テキスト ・特になし。必要に応じてプリントとスライドを用いる。
 ・講義資料
参考書 ・米本 和也 著 「CCD/CMOSイメージセンサーの基礎と応用」 CQ出版  ・Jun Ohta "Smart CMOS Image Sensors and Applications" CRC Press.
 ・Junichi Nakamura Ed., "Image Sensors and Signal Processing for Digital StillCameras" CRC Press.   ・G. F. Knoll「放射線計測ハンドブック」 (オーム社)
 ・小林正明 「シンチレータを用いる放射線計測」(ブイツーソリューション)  ・藤村亮一郎、山下忠興「放射線による固体現象と線量測定」(養賢堂)

その他

履修条件 特になし
オフィスアワー Eメールで連絡の上、日時を決める
成績評価の方法と基準 ・5段階(秀・優・良・可・不可)で評価する。
・評価は、試験、演習または宿題レポート等によって行う。
・半導体光センサ技術および蛍光体型放射線計測技術の基本概念の理解、基礎知識の習得を基準とする。
関連科目 特になし
関連学位 理学
注意事項 特になし

授業関連URL



各クラスを参照

配布資料



各クラスを参照